Materials reliability in microelectronics II - symposium held April 27-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A
- Författare
- (Editors: C.V. Thompson, J.R. Lloyd.)
- Genre
- Konferenspublikation
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Materials Research Society | cop. 1992 | USA, Pittsburgh, Pa | ix, 328 sidor. ill. |